Дослідження систем Pr2X3–Cu2X–ZX2 (Z=Si, Ge; X=S, Se) при 870 K

Abstract

Ізотермічні перетини систем Pr2X3–Cu2X–ZX2 (Z=Si, Ge; X=S, Se) при 870 K побудовано за результатами рентгенофазового аналізу. Підтверджено існування тернарних сполук на обмежуючих сторонах та тетрарних сполук R3CuZX7. The isothermal sections of the Pr2X3–Cu2X–ZX2 (Z=Si, Ge; X=S, Se) systems at 870 K were investigated using X-ray powder diffraction. The existence of ternary compounds on the bound sides was confirmed. The existence of quaternary R3CuZX7 compounds was confirmed in the investigated systems.