Визначення методами Фур’є–Хартлі мікротопографічних параметрів фрактографічних поверхонь

dc.contributor.authorШостак, А. В.
dc.contributor.authorМельник, Ю. А.
dc.contributor.authorShostak, A.V.
dc.contributor.authorMelnik, Yu. A.
dc.date.accessioned2015-06-05T17:37:43Z
dc.date.available2015-06-05T17:37:43Z
dc.date.issued2012
dc.description.abstractРозглянуто питання стереомікротопографії (поверхонь металів, твердих тіл). Пропонується за даними РЕМ-стереовимірювань апроксимувати цифрові моделі мікрорельєфу методами Фур’є−Хартлі з наступним визначенням крутизни, кривини, спектральної щільності. ; The problems of stereomicrotopography (of metal surfaces, of solid body’s) are considered. The approximation of microrelief digital models by Fourier−Hartley methods on the basis of REMstereomeasurements datas (a steepness, a curvature, spectral density) are proposed.uk_UK
dc.identifier.citationШостак, А. В. Визначення методами Фур’є-Хартлі мікротопографічних парметрів фрактографічних поверхонь / А. В. Шостак, Ю. А. Мельник // Науковий вісник Волинського національного університету ім. Лесі Українки / Волин. нац. ун-т ім. Лесі Українки ; [редкол.: Г. Є. Давидюк та ін.]. – Луцьк, 2012. – № 3(228) : Фізичні науки. – С. 53-60. – Бібліогр.: с. 59-60.uk_UK
dc.identifier.otherУДК 621.762
dc.identifier.urihttp://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/5250
dc.language.isoukuk_UK
dc.publisherСхідноєвропейський національний університет ім. Лесі Українкиuk_UK
dc.subjectфрактографіяuk_UK
dc.subjectстереометріяuk_UK
dc.subjectfractoraphyuk_UK
dc.subjectstereometryuk_UK
dc.titleВизначення методами Фур’є–Хартлі мікротопографічних параметрів фрактографічних поверхоньuk_UK
dc.title.alternativeThe Estimation of Microtopographic Parametres of Fractographical Surfaces by Fourier−Hartley Mehodsuk_UK
dc.typeArticleuk_UK

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
Shostak.pdf
Size:
1.04 MB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
2.59 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: