Фазові рівноваги в системах Y2S(Se)3–PbS(Se)–SiS(Se)2 при 770 K - Марчук, Олег Васильович; Руда, Ірина Петрівна; Гулай, Любомир Дмитрович; Олексеюк, Іван Дмитрович; Marchuk, O. V.; Ruda, I. P.; Hulai, Liubomyr D.; Olekseiuk, Ivan D. (Волинський національний університет імені Лесі Українки, 2008)
Взаємодію між компонентами в системах Y2X3–PbX–SiX2 (X – S, Se) при 770 K вивчено за результатами порошкової дифрактометрії. В системі Y2S3–PbS–SiS2 установлено утворення тетрарної сполуки Y2PbSi2S8 (структурний тип La2PbSi2S8, просторова група R3c, a = 0,88058(2) нм, с = 2,5868(1) нм, RI = 0,0766, RP = 0,1571). У системі Y2Sе3–PbSе–SiSе2 тетрарні сполуки не утворюються. Interaction of the components in the Y2X3–PbX–SiX2 (X – S, Se) systems at 770 K has been determined using X-ray powder diffraction. The formation of the Y2PbSi2S8 compound (La2PbSi2S8 structure type, space group R3c, a = 0,88058(2) nm, с = 2,5868(1) nm, RI = 0,0766, RP = 0,1571) in the Y2S3–PbS–SiS2 system has been established. No quaternary compounds exist in the Y2Sе3–PbSе–SiSе2 system.
Interaction of the Components in Quasi-Ternary Y 2 S(Se) 3 –PbS(Se)–SiS(Se) 2 Systems at 770 K.
Keywords: халькогеніди; сполуки РЗМ; сполуки Pb; сполуки Si; кристалічна структура; рентгенівська порошкова дифрактометрія; chalcogenides; rare earth compounds; Pb compounds; Si compounds; crystal structure; X-ray powder diffraction